光敏晶体管漏电流变大的失效分析与控制

• 作者: 孟猛 张伟 薄鹏
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 光敏晶体管 漏电流 银离子迁移 失效分析
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 11-13
• 页数: 3页
• 分类号: TN364+.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2013.04.003

摘要

论述了某光敏晶体管CE极之间漏电流变大的失效机理.通过对器件电性能测试、结构解剖、扫描电镜检查和能谱分析,证实了银离子迁移是导致该光敏晶体管CE极漏电变大的主要失效机理.从理论上阐述了银离子迁移的环境条件,从生产和使用两个方面提出了避免或减少银离子迁移的控制措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张伟		28	74	6.0	7.0
2	薄鹏		4	5	2.0	2.0
3	孟猛		8	16	2.0	3.0