国产晶体管的长期贮存可靠性

• 作者: 吕长志 张小玲 李志国 王东凤 程尧海 谢雪松
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 晶体管 长期贮存 可靠性
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 69-72
• 页数: 4页
• 分类号: TB24
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.013

摘要

测试了存贮24-37年的国产14种型号晶体管的输出特性.贮存37年的3DK7F 100只中,1只发生致命性失效;4只晶体管的共射极直流电流放大倍数hFE减小超规范失效,其最大退化率为-50%,年均退化率-1.35%.存贮29年的3DG101F,7只中有3只hFE的减小超过-30%,占该批晶体管43%,hFE最大退化从110减小到73,退化率为-34%.年均退化率-1.2%.存贮30年的J3AX54B hFE增加幅度最大,从120增加到134,增加了12%.年均增加0.4%.测试结果表明:在长期贮存中,晶体管的输出特性会发生退化;hFE值即有增加,也有减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志国	北京工业大学电子信息与控制工程学院	57	418	12.0	18.0
2	吕长志	北京工业大学电子信息与控制工程学院	60	471	12.0	18.0
3	程尧海	北京工业大学电子信息与控制工程学院	17	154	6.0	12.0
4	谢雪松	北京工业大学电子信息与控制工程学院	66	554	14.0	20.0
5	张小玲	北京工业大学电子信息与控制工程学院	69	447	11.0	18.0
6	王东凤	北京工业大学电子信息与控制工程学院	1	3	1.0	1.0