晶体管热阻测试系统的设计与实现

• 作者: 何纪法 何绍木 周路
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 晶体管 热阻 测试
• 年，卷（期）: 2007,（19）
• 所属期刊栏目: 传感器与仪器仪表
• 页码范围: 195-196
• 页数: 2页
• 分类号: TN321
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.19.079

摘要

热阻对晶体管的可靠性有着重要的影响,利用晶体管△Vbe参数与热阻在一定条件下满足某种数学关系式,通过测量晶体管△Vbe参数间接地测试热阻参数,实现对晶体管的质量测试,具有测量效率高、成本低、对器件无损伤等优点.