双极型微波功率晶体管热失效原因分析

• 作者: 李萍 来萍 郑廷圭
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 双极型微波功率晶体管 二次击穿 粘接不良
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TN322+.8|TN323.+4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2006.04.005

摘要

阐述了双极型微波功率晶体管的主要失效模式及失效机理,重点分析了热应力导致的失效,介绍了两个典型的失效分析案例,并提出相应的筛选措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	来萍		8	62	4.0	7.0
2	李萍		6	18	2.0	4.0
3	郑廷圭		6	32	3.0	5.0