基极注入HPM导致的双极型晶体管失效分析

• 作者: 游海龙 范菊平 贾新章
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 高功率微波 双极型晶体管 直流特性 烧毁面积
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 92-97
• 页数: 6页
• 分类号: TN015
• 字数: 3870字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2014.01.017

摘要

为了研究高功率微波对双极型晶体管的作用,在双极型晶体管基极直接注入高功率微波效应实验现象的基础上,建立了高功率微波作用于双极型器件的物理过程与模型,并通过器件仿真,分析确定了高功率微波引起器件失效的主要原因是:高功率微波产生的感应电压脉冲,引起双极型器件基区烧毁形成熔丝和产生大量缺陷.基区烧毁面积与缺陷数量随高功率微波作用的时间和功率的增大而增大,不同的烧毁面积引起失效器件的直流特性将发生变化.器件仿真与实验结果能较好吻合,验证了文中结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	游海龙	西安电子科技大学微电子学院	21	187	8.0	13.0
5	贾新章	西安电子科技大学微电子学院	63	572	14.0	20.0
9	范菊平	西安电子科技大学微电子学院	3	26	3.0	3.0