不同类型双极晶体管抗辐照性能的研究

• 作者: 关童童 张小玲 王鹏鹏 谢雪松 贾旭光
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 双极晶体管 电离总剂量效应 退火 氧化物正电荷 界面态
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TN322.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2013.06.004

摘要

对于制作工艺相同的NPN和LPNP两种类型的双极型晶体管进行了辐照实验,研究了不同类型双极晶体管的电离总剂量辐射损伤机理和退火效应.实验结果表明:在相同的辐照总剂量下,LPNP型双极晶体管的归一化电流增益的下降比NPN型双极晶体管的下降多,说明LPNP型双极晶体管的辐照敏感性更强,这与NPN和LPNP这两种类型的双极晶体管的辐射损伤机理的不同有关.对于NPN型双极晶体管,电离辐照总剂量效应主要是造成氧化物正电荷的积累;而对于LPNP型双极晶体管,电离辐照总剂量效应主要是造成界面态密度的增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢雪松		66	554	14.0	20.0
2	关童童		3	12	3.0	3.0
3	张小玲		69	447	11.0	18.0
4	王鹏鹏		3	14	3.0	3.0
5	贾旭光		3	7	2.0	2.0