双极晶体管负载瞬态辐照毁伤效应

• 作者: 吴伟 李进玺 申胜平 程引会 胡淑玲 赵墨 郭景海 马良
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 双极晶体管 毁伤效应 脉宽 注量 烧毁点
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 248-252
• 页数: 5页
• 分类号: TN322.8
• 字数: 1799字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201426.074002

摘要

利用有源传输线模型与漂移扩散模型的耦合计算模型,对在瞬态X射线辐照下电缆末端典型N+-p-n-N+结构的双极晶体管负载的毁伤效应与规律进行研究,通过分析双极晶体管内部晶格温度分布,判定是否处于毁伤状态.总结双极晶体管烧毁时间和烧毁所需能量与脉冲X射线脉冲宽度和注量之间的关系.结果表明:随着脉冲X射线脉宽增加,双极晶体管烧毁能量变化较小.烧毁时间逐渐增加;随着注量增加.烧毁时间逐渐降低,在5.86 J/cm2以下时,烧毁所需能量基本相同,之后呈指数逐渐增加,并通过曲线拟合得到损伤规律的经验公式.