一种硅微波功率三极管的失效分析

• 作者: 李兴鸿 赖世波 赵俊萍 赵春荣
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 硅微波功率三极管 耗散功率 熔融蒸发
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 39-43
• 页数: 5页
• 分类号: TN325+.2|TN323+.4
• 语种: 中文

摘要

描述了硅微波功率三极管的失效模式,给出了器件输出功率与器件耗损功率的关系,得出了微波脉冲电流与有效值的关系,证明了器件在规定的参数范围内能可靠工作,推论了器件失效发生时的状态.指出器件的失效是热电正反馈熔融烧毁所致,是使用问题而不是器件的本质失效；其分析过程对其它器件的失效分析有指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李兴鸿		12	9	2.0	2.0
2	赵春荣		5	4	1.0	2.0
3	赵俊萍		11	9	2.0	2.0
4	赖世波		2	4	1.0	2.0