恒定温度应力下的模拟IC加速退化试验研究

• 作者: 吴兆希 李晓红 杨少华 蔡建荣 邓永芳
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 加速退化试验 阿伦尼斯模型 激活能 驱动器
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3|TN431.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2016.03.009

摘要

研究了在不同恒定温度应力条件下某型号驱动器的模拟集成电路的加速退化试验.首先,确定了该型驱动器的敏感参数,并建立了敏感参数的退化模型;然后,计算得到了器件在加速应力下的伪寿命;最后,利用阿伦尼斯模型对伪寿命数据进行分析,外推得到了器件的激活能及其在正常工作应力条件下的寿命信息.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨少华		12	49	4.0	6.0
2	李晓红	中国电子科技集团公司第二十四研究所	20	87	6.0	9.0
3	邓永芳	中国电子科技集团公司第二十四研究所	13	48	3.0	6.0
4	蔡建荣	中国电子科技集团公司第二十四研究所	7	14	2.0	3.0
5	吴兆希	中国电子科技集团公司第二十四研究所	7	5	2.0	2.0