电子元器件加速寿命试验技术浅析

• 作者: 张全
• 来源期刊: 空间电子技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 电子元器件 加速寿命试验 恒定应力 步进应力 递进应力 加速模型
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 其他
• 页码范围: 86-88
• 页数: 3页
• 分类号: V443
• 字数: 3159字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-7135.2016.06.018

摘要

介绍了电子元器件加速寿命试验的理论基础及常用的几种试验方法，并对几种加速寿命试验方法进行了比较。结合工作实践中开展的电子产品加速寿命试验方案的设计与编制工作，讨论了电子元器件加速寿命试验的几点技术问题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张全		2	5	1.0	2.0