目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响

• 作者: 宁飞 沈湘衡 胡剑虹 贺庚贤
• 来源期刊: 中国光学与应用光学
• 学科: 工学
• 关键词: 表面发射率 红外热像仪 红外测温 测温精度
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 光学仪器
• 页码范围: 152-156
• 分类号: TN216
• 字数: 1630字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1531.2010.02.009

摘要

介绍了红外热像仪测温原理,分析了影响红外热像仪测温精度的因素,计算了不同表面发射率下红外热像仪的测温误差曲线.理论分析表明,目标表面发射率越高,红外热像仪测温精度越高.实验改变表面发射率的设置,计算了不同表面发射率对应的总辐射亮度,得到TP8型长波红外热像仪能够精确测温时,目标表面发射率必须大于0.5的结果.最后,对表面发射率分别为0.96、0.93和0.3的3种材料进行实际测温,结果表明,材料表面发射率较高时,红外热像仪具有较好的测温精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宁飞	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	13	128	7.0	11.0
2	沈湘衡	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	58	517	12.0	20.0
3	贺庚贤	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	20	168	8.0	12.0
4	胡剑虹	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	2	50	1.0	2.0