闪烁晶体光谱特性多参数综合测试技术研究

• 作者: 周汉昌 李瑞红 韩焱 韩跃平
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 工学
• 关键词: 光谱特性 逸出效率 闪烁晶体
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 2184-2186
• 分类号: O721|TL812
• 字数: 1971字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2010)08-2184-03

摘要

针对山西长城微光器材股份有限公司新型闪烁晶体材料的研制需求,研究了一种针对某闪烁晶体受X射线激发后光谱响应的多参数综合光电检测系统.通过系统的光谱输出接口直接测试闪烁晶体的射线转换光谱,通过电压输出接口测试PIN光敏二极管输出的光伏电压,进而采用等效电路法计算闪烁晶体的荧光逸出功率.测试结果表明,荧光逸出效率随X射线管电流的增大而减小.本研究对其他闪烁晶体光谱特性的测试具有借鉴价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩焱	中北大学电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室	268	1539	18.0	24.0
2	周汉昌	中北大学电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室	100	634	13.0	19.0
3	韩跃平	中北大学电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室	30	46	4.0	5.0
4	李瑞红	中北大学电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室	7	7	2.0	2.0