基于TestPoint事件驱动开发平台的半导体特性综合测试系统

• 作者: 吴春亚 孙钟林 程红娟 赵颖
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: Testpoint开发平台 事件驱动 自动测试系统
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1312-1314,1324
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2005.12.005

摘要

Testpoint是一种事件驱动开发平台.在Testpoint下,测试所要求的时序性和循环性能够得到很好的保证.结合GPIB通用接口技术和串行接口技术,用装有接口卡的计算机担任系统的控者,在Testpoint平台下解决了具有广泛意义的并口和串口仪器的程控问题.探讨了Testpoint平台下自动测试系统的实现方法和应用程序的开发方法,设计了半导体特性综合测试系统并完成了对样品的I-V、I-V特性的综合测试.通过Testpoint,完成了测量数据的存储、处理、显示、输出和打印等操作.在实际应用中,达到了改善测试质量和测试速度的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴春亚	南开大学光电子所	26	305	9.0	17.0
2	赵颖	南开大学光电子所	105	1195	16.0	33.0
3	孙钟林	南开大学光电子所	45	304	11.0	15.0
4	程红娟	中科院光电研究院	1	4	1.0	1.0