基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线

• 作者: 乔爱民 史金飞 戴敏
• 来源期刊: 自动化与仪表
• 关键词: ARM S3C44BO 测试主机系统总线 半导体分立器件测试系统
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 创意与实践
• 页码范围: 74-78
• 页数: 5页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9944.2007.01.021

摘要

半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备.介绍一种基于ARM微处理器S3C44BO的半导体分立器件测试系统测试主机系统总线的生成方法.在分析了测试系统的组成、S3C44BO的特点及测试主机系统总线性能要求后,完成了测试主机系统总线的生成.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	乔爱民	蚌埠学院机械与电子工程系	40	101	6.0	7.0
2	史金飞	东南大学机械工程系	122	1221	20.0	27.0
3	戴敏	东南大学机械工程系	37	560	12.0	23.0