基于嵌入式结构半导体芯片信息测试系统平台设计

• 作者: 常宜龙 菲律宾黎刹大学 北京中凯达自动化工程有限公司
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 嵌入式结构 半导体芯片 信息测试 工具集模块
• 年，卷（期）: 2024,（11）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 131-136,166
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2023.11.020

摘要

为解决因半导体芯片信息平均压缩比较大而导致的信息测试时间过长的问题，设计基于嵌入式结构半导体芯片信息测试系统平台；根据嵌入式终端体系布局形式，建立LeNet网络模型，再以此为基础，完善SMTExecutor结构的执行流程，实现信息测试系统平台的工具集模块设计；分别定义Deflate机制、LZ4机制，联合数据信息参量，规范系统平台同步化线程的执行模式，实现对半导体芯片信息的处理；按照嵌入式结构定义标准，生成配置文件，通过导入关键信息的方式，规划量化测试条件，从而对命令词进行识别，实现对测试系统功能的优化，联合工具集模块，完成基于嵌入式结构半导体芯片信息测试系统平台的设计；实验结果表明，上述系统平台的应用，可以在数据导入过程中解决半导体芯片信息平均压缩比过大的问题，能够大幅缩短信息测试时间，符合实际应用需求。