导轨运动误差对CCD拼接影响分析

• 作者: 薛闯 颜昌翔 高志良
• 来源期刊: 光机电信息
• 学科: 工学
• 关键词: CCD拼接仪 焦平面 直线导轨 阿贝误差
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 162-166
• 分类号: TN386.5
• 字数: 3511字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OMEI 20102712.0162

摘要

对于大视场、高分辨率空间CCD相机,多片CCD拼接技术仍是目前解决单片CCD线阵像元数目及其长度不能满足需求的主要手段.多片CCD器件的拼接精度直接影响CCD焦平面子系统的成像质量.焦平面CCD器件的拼接是在专用工具CCD拼接仪上完成的,CCD拼接仪的综合拼接误差决定了CCD器件的拼接精度.本文基于三坐标测量机的测量误差空间数学模型.推导出了由于直线导轨的运动误差引起的CCD拼接仪系统拼接误差的完整计算公式,通过对公式进行分析并实例计算,结果表明除了直线导轨的线位移运动误差外,由于直线导轨的角位移运动误差引起的阿贝拼接误差也是CCD拼接仪系统拼接误差的重要组成部分,而且由于CCD拼接仪的仪器构成特点以及三维空间工作特性,很难通过优化仪器布局来同时消除所有方向的阿贝误差.通过对各种消除或减小CCD拼接仪系统拼接误差的方法进行探讨,得出结论:采用误差补偿技术是减小CCD拼接仪系统拼接误差的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜昌翔	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	105	975	16.0	26.0
2	薛闯	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	11	101	5.0	10.0
3	高志良	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	12	201	5.0	12.0