探索科研新模式北京IC测试联合实验室成立

• 来源期刊: 电源技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 联合实验室 IC测试 北京 科研 集成电路产业 测试技术 封装
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 68
• 页数: 1页
• 分类号: TN929

摘要

集成电路（IC）测试是集成电路产业的重要一环。设计、制造、封装、测试四业并举，是国际集成电路产业发展的主流趋势。“北京集成电路测试技术联合实验室”的成立，开创了科研运作的新模式。