HL-2A装置SDD软X射线PHA阵列实验结果

• 作者: 刘仪 宋先瑛 张轶泼 李旭 杨进蔚 潘传红 袁国梁
• 来源期刊: 核聚变与等离子体物理
• 学科: 工学
• 关键词: 软X射线脉冲高度分析 硅漂移探测器 电子温度分布 电子速率分布 ECRH
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 等离子体物理学
• 页码范围: 97-102
• 分类号: O536|TL65+1
• 字数: 3210字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-6086.2010.02.001

摘要

用软X射线脉冲高度分析(PHA)阵列系统获得了等离子体的电子温度剖面和电子速率分布的时间演化.测量结果表明,电子温度剖面在OH阶段较平缓,接近抛物线1.0×[1-(r/a)2]2分布;而在ECRH(功率0.8MW)阶段,等离子体中心(z＝0)电子温度上升了0.6keV,边缘(z＝30cm)处只上升了0.1keV,反映出ECRH功率沉积在等离子体中心区域;在ECRH期间有大量的高能电子产生,因而电子速率分布在ECRH期间显著改变;等离子体中心的高能电子的数量和能量都比等离子体边缘的增加更大,ECRH(～0.8MW)期间等离子体中心(z＝0)产生的高能电子的能量可达17keV.分析表明:在ECRH(纵场Bt=1.3T)放电期间,ECRH加热效果显著,ECRH的功率主要沉积在等离子体中心附近;电子温度剖面在ECRH阶段较OH阶段峰化;ECRH期间有大量的高能电子产生,电子速率分布被改变成为非麦克斯韦分布.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘仪		12	14	2.0	2.0
2	杨进蔚		18	58	5.0	5.0
3	张轶泼		4	6	2.0	2.0
4	宋先瑛		10	25	3.0	4.0
5	李旭		6	22	3.0	4.0
6	袁国梁		4	9	2.0	3.0
7	潘传红		11	149	3.0	11.0