NI推出全新的NI PXI半导体套件

• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: PXI产品 半导体测试 美国国家仪器有限公司 NI INSTRUMENTS 套件 LabVIEW 软件定义
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 97
• 页数: 1页
• 分类号: TN307

摘要

美国国家仪器有限公司（National Instruments．简称NI）发布10款最新PXI产品，有效扩展PXI进行混和信号半导体测试的功能。全新以软件定义的产品套件专为NI LabVIEW图形化开发系统而设计，包含四个高速数字I／O（HSDIO）仪器、两个数字开关、两个增强射频仪器、一个高精度源测量单元（SMU）和专用数字数字矢量文件导入软件。