一种全偏振参数的显微测量系统

• 作者: 曾宇骁 李世博 李宇波 杨建义 陈伟坚
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 全偏振 Mueller矩阵 显微成像 液晶调制器
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 41-45
• 分类号: TN29
• 字数: 1613字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2010.12.008

摘要

本文设计了一种用于Mueller矩阵测量的全偏振参数显微镜测量系统.该测量系统以液晶调制器键合于偏振分束棱镜表面的模块为核心器件,实现了以10次光强获取为周期的Mueller矩阵参数测量功能,能够方便地实现Mueller矩阵中全部参数图像的实时测量,比前人设计系统的测量效率有很大提高.基于该系统,本文进行了Mueiler矩阵快速调制测量方案的具体设计,并给出了测量结果.论文还对该系统进行了测量误差的分析,实验结果及误差分析表明,系统的相对测量误差能够控制在2%以内.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨建义	浙江大学微电子与光电子研究所	97	650	13.0	21.0
2	李宇波	浙江大学微电子与光电子研究所	19	93	5.0	9.0
3	曾宇骁	浙江大学微电子与光电子研究所	3	30	2.0	3.0
4	李世博	浙江大学微电子与光电子研究所	2	2	1.0	1.0
5	陈伟坚	浙江大学微电子与光电子研究所	2	3	1.0	1.0