低频噪声在DC／DC转换器潜在缺陷检测中的应用

• 作者: 何亮 孙鹏 杜磊 陈文豪
• 来源期刊: 混合微电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 潜在缺陷 噪声 DC／DC转换器 可靠性
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: TN99
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜磊	西安电子科技大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
2	何亮	西安电子科技大学技术物理学院	36	212	7.0	14.0
3	陈文豪	西安电子科技大学技术物理学院	15	128	6.0	11.0
4	孙鹏	西安电子科技大学技术物理学院	16	70	4.0	8.0