纳米电路交叉冗余容错技术研究

• 作者: 张洋 张砦 王友仁
• 来源期刊: 佳木斯大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米电路 容错 交叉冗余 可靠性 故障屏蔽
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 2730字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1402.2010.01.002

摘要

提出了一种针对纳米电路的数字电路容错设计新方法.该方法基于交叉冗余原理,利用两种二进制错误的不对称性,采用模块化方法对纳米电路进行容错设计.以阵列乘法器为例,采用新方法对电路进行设计和仿真,并结合实验结果与传统的可重构和三模冗余容错方法进行比较.交叉冗余方法无需检测模块及表决器,不会增加系统延时,并且在资源消耗方面远低于传统方法,对纳米电路尤其适用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王友仁	南京航空航天大学自动化学院	190	2254	25.0	36.0
2	张砦	南京航空航天大学自动化学院	38	464	12.0	20.0
3	张洋	南京航空航天大学自动化学院	2	1	1.0	1.0