CPLD测试方法研究

• 作者: 于明
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: CPLD 测试模式 分治法
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 集成电路测试技术
• 页码范围: 38-43
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 3251字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2010.01.009

摘要

CPLD是集成电路中最常用的器件之一,CPLD的工艺不断改进,使得它的集成度和工作速度也在不断增加.因此,对于CPLD的测试变得越来越重要.本文在详细研究CPLD内部结构的基础上,基于"分治法"的基本思路对CPLD的测试理论和方法做了探索性研究,并且建立了测试模型以针对实际的CPLD器件测试.