基于CPLD技术的耐压测试系统研究

• 作者: 刘培媛 周炯如 马正华
• 来源期刊: 常州大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 可编程复杂逻辑器件 耐压测试 模/数转换
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 页码范围: 62-65
• 分类号: TP368
• 字数: 2340字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-0411.2010.02.016

摘要

介绍了基于可编程复杂逻辑器件(CPLD)技术的耐压测试仪的设计方案.该测试系统用于对电磁线绕制的产品进行绝缘耐压测试,测试波形数据通过CPLD和高速A/D转换器件进行采集转换,并交由CPU对数据进行处理,该设备可对单一产品测试和生产线上的流水检测,准确、可靠,可广泛用于电器设备制造业等各类耐压测试场合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马正华	常州大学信息科学与工程学院	83	405	11.0	15.0
2	刘培媛	常州大学信息科学与工程学院	1	0	0.0	0.0
3	周炯如	常州大学信息科学与工程学院	10	35	4.0	5.0