基于CHAM的SA级全路径覆盖方法

• 作者: 伦立军 徐士华 赵国生 赵磊
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 软件体系结构 测试路径 标号迁移系统 测试覆盖准则 化学抽象机
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 140-144
• 分类号: TP311.5
• 语种: 中文

摘要

文中提出了通过CHAM描述的SA规格说明生成LTS,并根据测试需求进行测试覆盖准则的选取,然后利用全路径测试方法,生成基于此覆盖准则的测试路径.最后以B/ S结构为例,验证了该方法在生成SA级的测试路径上是可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐士华		12	18	2.0	3.0
2	赵磊	哈尔滨师范大学现代教育技术中心	37	66	4.0	7.0
3	赵国生	哈尔滨师范大学现代教育技术中心	58	246	7.0	13.0
4	伦立军	哈尔滨师范大学计算机科学与信息工程学院	40	329	10.0	16.0