微带有源相控阵互耦效应及校准方法研究

• 作者: 杨红乔 王国龙 董涛
• 来源期刊: 无线电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 有源相控阵 互耦 校准 有源方向图
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 43-45
• 分类号: TN99
• 字数: 2316字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3106.2010.05.015

摘要

研究了小型微带有源相控阵天线中的互耦效应及其校准问题.分析了阵元间互耦对微带阵列天线阻抗特性和辐射特性的影响,对散射矩阵法在互耦校准中的适用性进行了分析,提出了基于有源方向图的互耦校准方法.仿真分析结果表明,对于强互耦情况下小型微带有源相控阵的校准,散射矩阵法存在较大的误差,而有源方向图法更加有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董涛		7	27	4.0	5.0
2	王国龙		1	5	1.0	1.0
3	杨红乔		1	5	1.0	1.0