开关电源磁性元件损耗、温升与绝缘研究

• 作者: 李网生 沈坚 顾公兵
• 来源期刊: 磁性元件与电源
• 学科: 工学
• 关键词: 开关电源 磁性元件 损耗 温升 绝缘
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 84-87
• 页数: 4页
• 分类号: TM4

摘要

通过对磁性元件的损耗分析，构建了总损耗模型，该模型的磁芯损耗考虑了波形因素，铜损耗考虑了高频率对损耗的影响，用交流电阻损耗代替直流损耗，使得总损耗计算值更接近实际。对该模型求解极值，推导了最小损耗时的磁通密度与线圈匝数计算方法。通过对损耗、温升与绝缘关系的讨论，提出了提高磁芯元件功率密度设计方法．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李网生		14	76	5.0	8.0
2	顾公兵		10	0	0.0	0.0
3	沈坚		9	5	1.0	2.0