一种支持多线宽直线反走样算法

• 作者: 骆朝亮
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 直线绘制 反走样 DDA 快速
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 102-105
• 分类号: TP391.72
• 字数: 2600字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2010.09.025

摘要

直线绘制中出现的锯齿现象称为走样,消除走样的方法称为反走样.文中通过对直线走样产生的原因进行理论上的分析,总结了现有的反走样技术.通过对经典的DDA直线绘制算法和Wu直线反走样绘制算法的研究,在二者结合的基础上,给出了一种任意宽度和复杂背景色下的直线反走样快速绘制算法:对于直线f(x)=mx+b,0≤m≤1,x轴上每移动一个像素单位,根据直线所需绘制的宽度,在y轴上进行跨度像素着色,填充的色深值取决于该像素到对应直线边缘线的距离、原有背景色深和当前直线绘制色深.对算法进行了去浮点优化,给出了复杂度分析和实验结果,实践证明,该算法有很好的执行效率和反走样效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	骆朝亮	中国地质大学信息工程学院	3	17	2.0	3.0