SE同轴测试装置中阶梯电容的研究与优化

• 作者: 桑昱 赵吉祥 陆福敏 陈超婵
• 来源期刊: 中国计量学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 屏蔽效能 阶梯电容 回波损耗 锥形过渡器 支撑介质
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 页码范围: 99-103
• 分类号: TN06
• 字数: 1465字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1540.2010.02.003

摘要

在屏蔽材料的屏蔽效能(shielding effectiveness,SE)测试装置中,通过对锥形连接器内导体进行微小移位,优化固定同轴装置的支撑介质的内、外径比值,并在支撑介质中挖去一定厚度的环形沟道构成小电感等技术对阶梯电容进行补偿,减小由截面不连续引起的回波损耗,设计了频率范围为10 MHz至3 GHz的SE同轴测试装置.利用软件仿真验证了表面电阻为5 Ω的屏蔽材料在该装置中测试有稳定的SE值,证明该装置不仅改善了基于ASTM D4935测试装置频率范围窄的不足,同时具备良好的阻抗匹配特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵吉祥	中国计量学院信息工程学院	29	163	7.0	11.0
2	陈超婵	中国计量学院信息工程学院	3	63	3.0	3.0
6	桑昱		3	63	3.0	3.0
7	陆福敏		4	86	4.0	4.0