星载成像光谱仪杂散光检测技术

• 作者: 吴清文 张军强 颜昌翔
• 来源期刊: 中国光学与应用光学
• 学科: 工学
• 关键词: 杂散光 杂散光检测 成像光谱仪
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 337-342
• 分类号: TP73|V243.5
• 字数: 3813字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1531.2010.04.005

摘要

介绍了星载成像光谱仪杂散光检测技术在国内外的发展状况,阐述了成像光谱仪杂散光的定义、来源和危害,分析了杂散光检测的必要性.通过截止滤光片法、光谱法、谱杂散光系数法、级数透过率法、氧气吸收光谱及参数拟合法、卷积计算法和矩阵修正法等7种光谱仪器杂散光检测方法优缺点的对比,给出了星载成像光谱仪杂散光检测技术的具体要求和发展趋势,认为单一的检测技术很难满足工程研制的实际需要,针对各研制阶段的组合检测技术将是星载成像光谱仪杂光检测的发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜昌翔	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	105	975	16.0	26.0
2	吴清文	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	115	1040	18.0	24.0
3	张军强	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	17	135	9.0	11.0