CCD辐射测温的数值解析及误差校正

• 作者: 常丹华 张余敬 张昆 陈瑞强
• 来源期刊: 传感技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 辐射测温 光谱发射率解析 数据离散化 光谱响应校正
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 物理类传感器
• 页码范围: 225-228
• 页数: 4页
• 分类号: TM930.115|TM930.12
• 字数: 2227字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1699.2010.02.017

摘要

提出一种新的CCD辐射测温数值校正方法.针对CCD测温时的两个主要误差来源(CCD光谱响应曲线和辐射体光谱发射率)进行了分析,运用图象处理技术对CCD光谱响应曲线进行离散化数值解析,借助比色测温原理标定并解析辐射体光谱发射率,建立了CCD辐射测温校正公式,实验数据表明测温方法及误差校正的有效性.这种测温方法是由CCD图像传感器对辐射体直接采集成像,在工业现场可摈弃附加外设的繁琐和不便,为辐射测温系统的便携性、实用化创造了条件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常丹华	燕山大学光电子系	57	670	13.0	24.0
2	陈瑞强	燕山大学光电子系	2	7	2.0	2.0
3	张昆	燕山大学光电子系	4	33	2.0	4.0
4	张余敬	燕山大学光电子系	3	30	2.0	3.0