振动对尘土进入手机影响的非线性回归分析

• 作者: 王东 田瑞利 许良军
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 尘土污染 尘土进入 振动 非线性回归 高斯拟合
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 32-35
• 分类号: O213.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2010.02.008

摘要

尘土污染是造成手机机电元件电接触故障的主要原因之一.尘土进入手机是影响手机可靠性的前提条件,对于手机类接口较小的设备,尘土并不容易直接进入,振动和接口尺寸结构是影响此类设备尘土进入的主要因素.主要研究了尘土量与振动的关系,通过振动试验得到尘土的进入量随时间的增加先上升后下降,即尘土的进入量随着时间的增加先增多后减少,进而对结果进行多元非线性回归拟合,得出手机接口内部尘土量与振动的关系可以用二元高斯函数来表征的结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许良军	北京邮电大学电接触科研室	38	156	5.0	11.0
2	田瑞利	北京邮电大学电接触科研室	1	0	0.0	0.0
3	王东	北京邮电大学电接触科研室	16	95	5.0	9.0