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TD-LTE受限基带芯片终端一致性测试即将展开
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摘要：
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TD-LTE终端EMM实体一致性测试研究
EMM
TD_LTE
一般过程
特殊过程
一致性测试
TD-LTE异频重选过程的RRM一致性测试实现
TTCN-3
TD-LTE
小区重选
RRM一致性测试
TD-LTE终端射频一致性测试中SCPI命令解析器的设计与实现
TD-LTE
射频一致性测试
SCPI命令解析器
TD-LTE系统RRC一致性测试设计与TTCN-3验证
时分—长期演进
无线资源控制
协议一致性测试
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期刊影响力
通信世界
主办单位：
人民邮电出版社
出版周期：
旬刊
ISSN：
1009-1564
CN：
11-4405/TP
开本：
8开
出版地：
北京市崇文区广渠门内大街80号通正国际大厦602-607室
邮发代号：
82-659
创刊时间：
2000
语种：
chi
出版文献量（篇）
19577
总下载数（次）
5
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