像增强型CCD成像系统的分辨力分析

• 作者: 刘广荣 米凤文 金伟其 阴浩
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 像增强型CCD 像增强器 分辩力 信噪比
• 年，卷（期）: 2010,（z1）
• 页码范围: 96-100
• 分类号: TN223
• 字数: 3095字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/gzxb201039s1.0096

摘要

分辨力和信噪比是像增强型CCD成像系统的两个最主要的参量.为了分析CCD相机分辨力对像增强型CCD成像系统分辨力的影响,本文分别用一个高分辨力像增强型CCD相机和一个普通分辨力CCD相机分别与相同的中继透镜、像增强器和前置镜头耦合,得到一套高分辨力像增强型CCD实验样机和一套对比像增强型CCD实验样机；在不同照度下测量了两套实验样机的分辨力和信噪比,实验结果分析表明:当照度高于1.84×10-3 lx时,像增强型CCD成像系统分辨力受器件分辨力和信噪比共同影响,高分辨力像增强型CCD实验样机分辨力要高于对比像增强型CCD实验样机分辨力.当照度低于1.84×10-3 lx时,像增强型CCD成像系统分辨力主要受器件信噪比的影响,高分辨力像增强型CCD实验样机与对比像增强型CCD实验样机分辨力相当.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金伟其	北京理工大学光电学院	310	4324	34.0	50.0
3	刘广荣	北京理工大学光电学院	34	918	17.0	30.0
5	米凤文	北京理工大学光电学院	7	33	4.0	5.0
9	阴浩	北京理工大学光电学院	1	11	1.0	1.0