聚苯胺薄膜厚度的表征及原位生长

• 作者: 李冀蜀 杨南如 沈临江 顾大伟
• 来源期刊: 南京工业大学学报（自然科学版）
• 学科: 化学
• 关键词: 聚苯胺薄膜 厚度 压力 原位聚合 生长
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 6-11
• 分类号: O633.2
• 字数: 3551字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7627.2010.05.002

摘要

以石英基片为衬底,分别在常压0.1MPa和500MPa高压条件下采用原位聚合法制备聚苯胺(PANI)薄膜.通过对PANI薄膜的厚度进行原子力显微镜的直接测量和光谱的间接表征,建立了薄膜厚度df (nm) 与薄膜UV-Vis吸收光谱中400 nm处吸收强度A400间的关系: df = 548A400(0.1MPa)及df=341A400(500MPa).根据这一关系进一步测量了薄膜的生长曲线,并通过扫描电镜(SEM)形貌观测和电导率测试,研究了原位聚合PANI薄膜在不同合成压力下的生长及导电特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨南如	南京工业大学材料科学与工程学院	54	951	18.0	29.0
2	李冀蜀	南京工业大学理学院	5	8	2.0	2.0
6	顾大伟	南京工业大学理学院	13	34	4.0	4.0
7	沈临江	南京工业大学理学院	15	33	4.0	4.0