SOC测试调度控制器设计

• 作者: 付永庆 俞洋 王帅
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 测试结构 测试调度 测试访问机制 测试控制器
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 44-47
• 分类号: TP391.76
• 字数: 2829字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-671X.2010.10.011

摘要

在对SOC测试时,SOC测试结构的核心部分是测试访问机制(TAM)和测试调度控制器.文中设计了一种新颖的基于测试总线的SOC测试调度控制器.用户通过上位机给控制器发出指令,使IP核处于不同的测试模式,提高了测试的灵活性.控制器可以通过对测试总线的配置实现多个IP核的并行测试,大大缩短测试时间.实验结果表明,该方案设计合理,可以高效地完成IP核的测试任务.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞洋	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	24	285	9.0	16.0
2	付永庆	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	119	748	13.0	21.0
3	王帅	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	50	346	11.0	17.0