非测量层SnK_α特征谱线对X射线荧光光谱法测定冷轧镀锡板Sn层质量影响的探讨

• 作者: 徐永宏 林学武 王德智
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 基板厚度 镀层质量 非测量层 SnK_α
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 页码范围: 18-22
• 分类号: O657.34
• 字数: 3120字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2010.03.004

摘要

本文运用ZSX仪器分析软件建立了基本参数法(FP)测试模型,对冷轧镀锡板Sn层质量分析中非测量层SnK_α特征谱线对定量分析的影响进行了研究.阐述了影响非测量层SnK_α特征谱线产生的两大因素基板厚度和镀层质量及其变化对定量分析产生的SnK_α增量影响程度,得出当基板厚度大于0.2 mm时,非测量层SnK_α特征谱线产生的增量较小,可以进行相应的校正;当基板厚度小于0.2 mm时,非测量层SnK_α特征谱线产生的Sn增量较大,且不易校准;当基板厚度一定并可导致非测量SnK_α特征谱线产生时,此时由镀层质量变化而导致非测量SnK_α特征谱线产生的Sn增量比较稳定,可进行相应的校正,并用实际生产样品进行了分析、验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王德智	梅钢公司制造部	1	4	1.0	1.0
2	徐永宏	梅钢公司技术中心	1	4	1.0	1.0