CCD微米级圆钢光电测径仪设计

• 作者: 周培涛 姚刚 李成贵
• 来源期刊: 单片机与嵌入式系统应用
• 学科: 工学
• 关键词: CCD微米级 非接触式 光电测径仪
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 应用天地
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: TH741
• 字数: 2260字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-623X.2010.02.016

摘要

提出了线阵CCD微米级非接触式圆钢光电测径仪的设计方案,并以ARM微处理器和单片机为核心实现了设计;解决了传统圆钢测径方法接触式测量的局限问题,具有结构简单、小型化、非接触、精度高等特点.实验结果表明,该系统实现了CCD非接触式圆钢光电测径,测量结果准确、精度高、稳定性好,且可直接方便地显示测量结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成贵	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	91	890	16.0	25.0
2	周培涛	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	4	32	3.0	4.0
3	姚刚		1	3	1.0	1.0