1553B总线通讯的可靠性设计

• 作者: 代霜 徐抒岩 王槐
• 来源期刊: 光机电信息
• 学科: 工学
• 关键词: 1553B总线通讯 单粒子翻转 失效 可靠性
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 52-58
• 分类号: TP336
• 字数: 3245字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OMEI 20102709.0052

摘要

为保证通讯的正常时序和避免空间环境[尤其是单粒子翻转效应(SEU)]对1553B总线通讯的危害性影响,建立了1553B总线通讯通用的失效模式分析模型.针对不满足通讯时序而引起的通讯失效,通过增加握手时序的方式加以避免.软件设计中针对典型的失效模式,如中断无法响应、帧格式错误等,给出与一般通讯软件不同的高可靠性软件设计流程,具体在设计方法上采取寄存器定时更新、存储区表决法以及冗余设计等可靠性措施避免失效,并通过对固定位置的存储单元模拟SEU故障注入的方式进行验证,降低了单粒子翻转的危害性,提高了1553B总线通讯的可靠性.具有普遍意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐抒岩	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	73	582	15.0	21.0
2	王槐	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	17	144	7.0	11.0
3	代霜	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	12	93	5.0	9.0