短路电流上升率对熔断器弧前特性影响的仿真与实验研究

• 作者: 庄劲武 戴超 蒋小伟
• 来源期刊: 船电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 短路电流上升率 熔断器 弧前特性 ANSYS
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TM563.1
• 字数: 1564字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-4862.2010.02.011

摘要

限流熔断器通常在短路电流上升过程中熔断,为了寻求短路电流上升率对熔体的弧前特性的影响,本文利用ANSYS有限元分析软件,以狭颈截面积为0.16min2的熔体为例,对其进行了建模.仿真结果表明,在相同截面断口、短路电流上升率为2～20 A/μs的条件下,弧前I2t随着电流上升率的增大而减小:电流上升率在10A/μs以上,弧前I2t基本一致,变化率小于5%, 在10A/μs以下,上升率为2～A/μs其弧前I2t比10A/μs时增大了约21%.在相同电流上升率、狭颈形状的情况下,弧前I2t与狭颈截面积的平方成正比.并通过实验验证了仿真分析的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庄劲武	海军工程大学电气与信息工程学院	103	1135	19.0	27.0
2	戴超	海军工程大学电气与信息工程学院	15	235	9.0	15.0
3	蒋小伟	海军工程大学电气与信息工程学院	2	20	1.0	2.0