相变存储器中驱动二极管之间串扰电流的分析与减小方法

• 作者: 凌云 宋志棠 李宜瑾 罗胜钦 贾晓玲 龚岳峰
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 相变存储器 驱动二极管 串扰电流 TCAD
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 页码范围: 271-274
• 分类号: TN313.6
• 字数: 1809字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2010.03.005

摘要

由于二极管在单元尺寸上的优势,被认为是高密度相变存储器中驱动管的不二之选.如果制备二极管的工艺参数不恰当,则大的漏电流会影响PCRAM存储数据的准确性和长久的保持力.首先简要介绍了具有自主知识产权的相变存储器中驱动二极管阵列的制备方法,然后从载流子分布以及半导体器件角度,分析了驱动二极管之间串扰电流的产生原因,最后,依据工艺流程介绍了一种简单的方法来减小驱动二极管之间的串扰电流.依据SMIC的工艺进行TCAD仿真,结果表明此种方法能够在增大驱动电流的同时大大减小串扰电流.