普通型与矮生型梨叶片显微结构比较

• 作者: 戴洪义 梁美霞 葛红娟
• 来源期刊: 西北植物学报
• 学科: 生物学
• 关键词: 梨 普通型 矮生型 电镜扫描 石蜡切片
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 1584-1588
• 分类号: Q944.56
• 字数: 2440字
• 语种: 中文

摘要

应用扫描电镜和石蜡切片方法,对普通型和矮生型梨叶片的显微结构进行比较分析.结果表明:普通型和矮生型梨的叶片上表皮均有大量蜡质分布,气孔均分布在叶片下表皮,而矮生型蜡质层更厚.普通型和矮生型梨气孔器平均长轴×短轴分别为25.42 μm×19.39 μm和29.52 μm×16.85 μm,气孔平均长×宽分别为17.73 μm×5.37 μm和20.59 μm×4.07 μm;普通型和矮生型梨的叶片厚度平均值分别为196.35和227.99 μm,栅栏组织厚度平均值分别为54.93和79.13 μm,栅栏组织/海绵组厚度比平均分别为0.80和1.16.可见,野生型梨的叶片表皮蜡质层更厚,气孔更狭长,开度更小,叶片厚度和栅栏组织厚度显著较大,栅海比大于1,表现出抗旱耐寒的叶片结构特征.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁美霞	青岛农业大学园林园艺学院	21	138	8.0	11.0
2	戴洪义	青岛农业大学园林园艺学院	88	585	13.0	20.0
3	葛红娟	青岛农业大学园林园艺学院	3	14	2.0	3.0