N&K多功能薄膜分析仪在OLED失效分析中的应用

• 作者: 俞宏坤 彭雅芳 曾韡 陈柳
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 有机电致发光器件 N&K多功能薄膜分析仪 失效分析
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 582-584
• 分类号: TN383+.1
• 字数: 1588字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2010.04.028

摘要

使用N&K多功能薄膜分析仪对OLED的结构进行分析,对比了不同时间室温老化实验样品的反射率波谱.对反射率进行计算拟合,得到OLED的多层膜结构信息.对相同室温老化实验条件下的完好器件和失效器件的结构进行了对比,发现对于结构为ITO/NPB/Alq3/LiF/Al的器件,主要是Alq3和LiF层发生变化引起器件失效.由此也证明使用N&K多功能薄膜分析仪是OLED失效分析的有效手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞宏坤	复旦大学材料科学系	24	318	8.0	17.0
2	曾韡	复旦大学材料科学系	13	15	2.0	3.0
3	彭雅芳	复旦大学材料科学系	2	4	1.0	2.0
4	陈柳	复旦大学材料科学系	2	2	1.0	1.0