LP模型分析涂覆长周期光纤光栅复折射率传感器

• 作者: 罗涛 顾铮(先)
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 长周期光纤光栅 耦合模理论 LP模 消光系数 折射率
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 59-66,74
• 分类号: O436-TN253
• 字数: 5917字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2010.12.012

摘要

对于涂覆长周期光纤光栅(LPG)传感元件,涂覆层折射率大于包层折射率时将具有很高的灵敏度.然而在涂覆层厚度为纳米量级时,涂覆层的折射率将具有一定的吸收,吸收将对LPG传感元件产生一定的影响.本文在线偏振(LP)模近似理论和耦合模理论(CMT)的理论模型基础上,通过数值计算对这一情况进行研究讨论.详细分析了模式转变点附近和远离模式转变点区域涂覆LPG的模式结构和透射谱情况.在无吸收的理想模型基础上,详细分析了消光系数对模式转变和重新组合的影响,以及模式结构的转变对LPG透射谱的影响,得出吸收将会导致LPG灵敏度、可测量的动态范围的变化.最后,文章给出了一种新型的LPG吸收传感元件的模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗涛		2	13	1.0	2.0
2	顾铮(先)		3	35	2.0	3.0