基于Credence Gemini500的内嵌式AD转换器测试方法研究

• 作者: Yu Shaoguang 于韶光 姜岩峰 张晓波 杨兵 鞠家欣
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 内嵌模数转换器 测试模式 片上系统
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 集成电路测试技术
• 页码范围: 34-37,43
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2813字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2010.01.008

摘要

本文中应用Credence公司的Gemini500测试系统对某-SoC芯片内嵌模数转换器进行了测试.根据芯片功能分析和封装形式,对测试板进行了优化设计.根据内嵌式ADC的时序特点进行了测试向量的设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜岩峰	北方工业大学信息工程学院微电子中心	44	285	7.0	15.0
2	杨兵	北方工业大学信息工程学院微电子中心	20	30	3.0	4.0
3	张晓波	北方工业大学信息工程学院微电子中心	21	30	3.0	4.0
4	于韶光		4	5	2.0	2.0
5	鞠家欣	北方工业大学信息工程学院微电子中心	17	33	3.0	5.0
6	Yu Shaoguang	北方工业大学信息工程学院微电子中心	1	2	1.0	1.0