HXMT高能电子学测试系统的研制

• 作者: 余庆龙 刘聪展 季建峰 张智
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: HXMT 测试系统 复合晶体探测器 LVDS-USB
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 1003-1007,1021
• 分类号: TP202
• 字数: 3084字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2010.08.001

摘要

介绍了为正在研制的HXMT高能电子学系统(ES/HE)研制的一套专用的测试系统.分析了测试系统功能需求,对测试系统进行了整体设计.并着重描述了测试系统中几个主要功能模块的实现原理及方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	季建峰	清华大学高能辐射成像国防重点学科实验室	6	13	2.0	3.0
2	张智	清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室	28	110	6.0	9.0
3	刘聪展	清华大学工程物理系	8	15	3.0	3.0
4	余庆龙	清华大学工程物理系	1	4	1.0	1.0