叠片法测量脉冲X射线源焦斑

• 作者: 孙江 尹佳辉 张众 张鹏飞 杜泰斌 梁天学 王志国 马继明 高屹
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 叠片法 焦斑尺寸 脉冲X射线源 空间分辨 针孔照相 阳极杆箍缩二极管
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 3057-3061
• 分类号: TN206|TL503
• 字数: 2606字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20102212.3057

摘要

介绍了叠片法测量脉冲X射线源焦斑的原理.对确定结构和尺寸的金属、薄膜叠片及测试系统布局,数值计算了叠片法的空间分辨及对均匀分布线光源的输出响应,得到响应曲线半高宽与焦斑尺寸的对应关系.计算结果表明,叠片法不适用于测量小于2 mm的焦斑.在感应电压叠加器上开展了阳极杆箍缩二极管实验,采用叠片法测量二极管X射线源轴向焦斑,与针孔照相结果基本相符,说明叠片法可用于脉冲X射线源焦斑尺寸测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王志国		11	37	4.0	5.0
2	梁天学		31	274	11.0	14.0
3	尹佳辉		27	199	8.0	11.0
4	张鹏飞		10	31	4.0	4.0
5	张众		15	137	7.0	11.0
6	马继明		27	70	5.0	6.0
7	孙江		9	28	4.0	4.0
8	高屹	清华大学工程物理系	4	22	4.0	4.0