利用时间分辨Ar的K壳层发射光谱诊断内爆靶丸芯区电子温度的时间演化过程

• 作者: 丁永坤 张继彦 缪文勇 蒲昱东 赵宗清 黄天晅
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 惯性约束聚变 内爆 电子温度 光谱诊断
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 2063-2066
• 分类号: O56
• 字数: 1639字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20102209.2063

摘要

在神光Ⅱ装置上的内爆实验中,通过在充氘气(D2)的靶丸中掺入氩(Ar)元素,利用晶体谱仪配条纹相机测量得到了内爆停滞阶段Ar 的K壳层发射光谱随时间的变化.在实验中,观测到Ar的Heα,Heβ以及Lyα线发射,持续时间大约200 ps.用Heα线与Lyα线强度比值来推断靶丸芯区电子温度.利用碰撞辐射模型,从理论上计算出Heα线与Lyα线强度比值随电子温度、数密度的变化.通过将实验上观测到的Heα线与Lyα线强度比与理论计算值相比较,获得了芯区电子温度随时间的演化.并计算比较了不同电子密度条件下推断出来的电子温度的差异,证明诊断电子温度的方法对电子数密度的变化不敏感.利用逃逸因子修正了自吸收效应,从计算的结果可以看出在目前的实验中Heα线和Lyα线是光学薄的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵宗清	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	23	70	5.0	7.0
2	黄天晅	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	12	19	2.0	4.0
3	丁永坤	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	49	181	7.0	10.0
4	缪文勇	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	18	65	5.0	6.0
5	张继彦	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	31	169	7.0	12.0
6	蒲昱东	清华大学工程物理系	8	19	2.0	4.0