X射线断层扫描测量技术：精确的CT测量技术极大优化工艺过程

• 来源期刊: 模具工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 测量技术 断层扫描 X射线 工艺过程 优化 极大 CT 医疗器械行业
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 50
• 页数: 1页
• 分类号: O434.1

摘要

来自卡尔蔡司的X射线断层扫描测量技术（Metrotomography）已经在业界牢牢占据了领先地位。该技术为世界各地的消费类商品、汽车和医疗器械行业的多种应用提供解决方案。由于提供的数据量多而全，因此在缩短研发周期、提升初始样本测试结果分析能力，