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基于C8051F060和AD9834的频率响应测试仪设计
基于C8051F060和AD9834的频率响应测试仪设计
作者:
严正国
张家田
杨忠华
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
AD9834频率响应
测试仪
单片机
C8051F060
摘要:
为了测试电路系统的频率响应特性,通常需要在电路系统输入端加上不同频率的激励,然后再测量电路的输出以得到频率响应函数。文中介绍了由单片机和DDS构成的频率响应测试仪设计方法,同时给出了单片机中的软件处理流程。试验结果表明,本测试仪测量精度高,操作方便。
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文献信息
篇名
基于C8051F060和AD9834的频率响应测试仪设计
来源期刊
电子元器件应用
学科
工学
关键词
AD9834频率响应
测试仪
单片机
C8051F060
年,卷(期)
2010,(10)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
12-14
页数
3页
分类号
TP212
字数
语种
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
张家田
西安石油大学光电油气测井与检测教育部重点实验室
103
671
12.0
22.0
2
严正国
西安石油大学光电油气测井与检测教育部重点实验室
100
427
10.0
16.0
3
杨忠华
西安石油大学光电油气测井与检测教育部重点实验室
3
1
1.0
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2010(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
AD9834频率响应
测试仪
单片机
C8051F060
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件应用
主办单位:
中国电子元件行业协会
出版周期:
月刊
ISSN:
1563-4795
CN:
开本:
大16开
出版地:
西安市科技路37号海星城市广场B座240
邮发代号:
创刊时间:
1999
语种:
chi
出版文献量(篇)
5842
总下载数(次)
7
总被引数(次)
11366
期刊文献
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